Lackenbach Siegel LLP（米国）のMr. Andrew Young、Mr. Tetsuo Nakatsuにご訪問頂き、米国における意匠の類否判断手法や図面作成のコツについてご説明頂きました。当所からは日本の出願件数の増加傾向について紹介し、商標審査官の増員・ファストトラック審査について情報を共有しました。